专利摘要显示，本申请涉及一种芯片的故障检测方法、装置及芯片。该方法包括：获取待测目标信号；分别采集所述待测目标信号的高电平发生时刻和低电平发生时刻，和/或高电平结束时刻和低电平结束时刻；当时序连续的高电平发生时刻和低电平发生时刻的时间差或高电平结束时刻和低电平结束时刻的时间差小于第一阈值时，确定所述检测待测目标信号存在信号故障并输出第一故障信息。本申请提供的方案，能够快速、准确、全面的找出芯片故障，确保芯片在实际应用中的安全可靠。
本文源自金融界
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专利摘要显示，本申请涉及一种芯片的故障检测方法、装置及芯片。该方法包括：获取待测目标信号；分别采集所述待测目标信号的高电平发生时刻和低电平发生时刻，和/或高电平结束时刻和低电平结束时刻；当时序连续的高电平发生时刻和低电平发生时刻的时间差或高电平结束时刻和低电平结束时刻的时间差小于第一阈值时，确定所述检测待测目标信号存在信号故障并输出第一故障信息。本申请提供的方案，能够快速、准确、全面的找出芯片故障，确保芯片在实际应用中的安全可靠。
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